AQG324対応 ダイナミック試験・信頼性評価サービス～電動車・次世代パワー半導体の信頼性を評価します～
世界的にAQG324への関心が高まっています
AQG324(Automotive Qualification Guideline 324)は欧州車載向けの規格であり、車載用パワーデバイスに対しての特性評価、環境試験、寿命試験等多岐に渡る信頼性試験を包括しています。
SiCパワーデバイスの車載インバータへの適用拡大に伴い、高速スイッチング動作に起因する動的な電気的ストレスを考慮した信頼性評価の重要性が高まっている事から、AQG324のなかでもダイナミック試験 DGS、DRB、Dyn H3TRB試験の重要性・ニーズが高まっています。
なぜ今、AQG324ダイナミック試験への対応が求められるのか
SiC MOSFETをインバータとして使用すると、高速にOn/Offスイッチングが繰り返されます。
・急峻な dV/dt
・ゲート電圧の繰返し変動
・高電圧スイッチング
・高温状態でのスイッチング
・高温高湿状態でのスイッチング
といった、静的バイアス試験とは異なるストレスが加わります。
このため、従来の静的バイアス試験では実使用時に発生するであろう劣化モードや信頼性を十分に評価できない為、動的バイアス試験として、DGS、DRB、Dyn H3TRBといったダイナミック試験が必要とされています。
■こんなお困りごとはありませんか？
・AQG324に対応した試験を実施したい
・自社でダイナミック試験環境を構築するのが難しい
・DGS・DRBなどの試験条件や環境構築について相談したい
・試作品に合わせた専用のドライブ基板やジグが必要
・試験だけでなく、異常発生時の原因解析まで依頼したい
そのお悩み、クオルテックにご相談ください。
クオルテックのAQG324ダイナミック試験対応サービス
AQG-324 Dynamic 試験
欧州の車載向け規格AQG324のDGS、DRB、Dyn.H3TRBなどのダイナミック試験について、当社ではお客様のサンプル仕様に合わせて、ドライブ基板の設計・作成などカスタマイズされた試験環境を構築し試験を実施いたします。
・印加電圧、駆動周波数を個別装置の組み合わせで幅広く対応可能。サンプル水冷機構も対応可。
・温度、電圧、電流等の常時モニタで異常発生時に検知停止。
01｜主要な試験に対応
■DGS試験 (QL-09)
Dynamic Gate Stress Test
ゲートに動的スイッチングストレスを与える事で、SiC パワーMOSFETのゲート・スイッチング不安定性を評価します。
試験環境
■DRB試験(QL-10)
Dynamic Reverse Bias Test
高電圧ストレス及び高いdV/dtのスイッチングストレスを与える事で、チップへの動的電界ストレス耐性を評価します。
試験環境
■Dyn.H3TRB試験(QL-11)
高温高湿ストレス、高電圧ストレス及び高いdV/dtのスイッチングストレスを与える事で、高温高湿環境下での動的電界ストレス耐性を評価します。
試験環境
【Dyn.H3TRB試験実例】
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オシロスコープ波形
02｜サンプル仕様に合わせた「カスタマイズ対応」
クオルテックでは、決められた条件で試験する以外にも、お客様の試作サンプルの仕様や評価目的に合わせて試験環境そのものを構築します。
ドライブ基板の専用設計・製作
評価ジグの設計・製作
サンプルに合わせた試験装置の組み合わせ
印加電圧・駆動周波数・デューティ比などの条件調整
水冷機構や冷熱サイクルを組み合わせた試験環境の構築
「このサンプル、この条件でも試験できる？」という段階からご相談いただけます。
03｜長時間試験を支えるリアルタイムモニタリング
AQG324対応試験では、長時間にわたりデバイスへストレスを与える評価も行います。
クオルテックでは、温度・電圧・電流などの各種パラメータをリアルタイムで監視。
異常発生時には保護回路によって試験を安全に停止し、サンプルへの影響を抑えます。
04｜試験だけでは終わらない。故障解析までワンストップ
試験中に異常や故障が発生した場合も、その先まで対応できるのがクオルテックの強みです。
信頼性試験 → 異常・故障発生 → 非破壊解析 → 断面観察・SEM等による詳細解析 → 原因究明
ご相談から報告書納品まで
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「この個数なら、具体的にどれくらいの納期・予算感か？」など、お困りごとをお気軽にお聞かせください。
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