通常の動作での寿命を予測し、初期不良のデバイスを選別する「スイッチング試験」
概要
パワー半導体における信頼性評価では、一般的な半導体の評価試験とは別に個別試験が実施されます。
動作寿命試験として、パワーサイクル試験、連続通電試験、高低温逆バイアス試験に加え、高低温下でのスイッチング試験が実施される場合があります。
特長
測定系を以下に示します。カスタム試験装置により、
・環境温度、印加電圧やスイッチング周波数を任意に設定可能です。
・放熱対策などご要望に合わせた対応が可能です。
・試験前後や途中取り出ししての電気特性測定も対応いたします。
設備イメージ
DUTの恒温槽内設置例
動作時のゲート電圧とコレクタ‐エミッタ間電圧
試験用途
高温/低温下における長時間スイッチング動作での寿命試験
対応規格
特になし（関連規格 JEITA-ED4701)
