有機材料、発光素子、薄膜・半導体の測定、分析装置を導入しました｡
非接触・非破壊で、仕事関数、イオン化ポテンシャル、バンドギャップ、透過・吸収波長、蛍光発光特性、膜厚・光学定数を計測できます｡
受託分析、故障解析、信頼性評価から研究開発までトータルクオリティソリューションの「クオルテック」
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