電気試験(AQG324 Dynamic試験)のご紹介

欧州の車載向け規格AQG324のDGS、H3TRB、DRBなどのダイナミック試験について、当社ではお客様のサンプル仕様に合わせて、ドライブ基板の設計・作成などカスタマイズされた試験環境を構築し試験を実施いたします。
・印加電圧、駆動周波数を個別装置の組み合わせで幅広く対応可能。サンプル水冷機構も対応可
・温度、電圧、電流等の常時モニタで異常発生時に検知停止

DGS(ダイナミック・ゲート・ストレス)試験はSiCパワーMOSFETのゲート・スイッチング不安定性を試験する事を目的としています。

DRB(ダイナミック・リバース・バイアス)試験はチップ上の高いdV/dtによる内部構造の急速充電による経年劣化を確認する事を目的としています。

ダイナミックH3TRB試験はチップ上の高いdV/dtを高温/高湿(85℃/85%)下で確認する事を目的としています。