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展示会情報

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  • 2018/04/30

「人とくるまのテクノロジー展 2018横浜」に出展

 クオルテックは、5月23日(水)~25日(金)にパシフィコ横浜で開催される「人とくるまのテクノロジー展 2018横浜」に出展します。同展示会は、自動車業界の第一線で活躍する技術者・研究者のための自動車技術の専門展です。

 「くるまの進化から、未来社会がやってくる ―車載部品の試験・評価から故障解析まで―」をテーマに、最新の信頼性評価、分析技術を紹介します。クオルテックでは、信頼性試験、試料作製、分析・故障解析、再現実験による改善提案まで「トータル・クオリティ・ソリューション」を提供。安全と安心を支える製品の、開発スピードアップに貢献します。

【主な出展物】
①パワーサイクル試験装置
パワー半導体の材料や試験仕様に応じて100種以上の制御方法を有しています。
主な特徴は、
1)試験中にデバイスが劣化・破壊する場合、前兆を検知して破壊原因を特定できる。
2)新開発のデバイスやモジュールでも、特性に応じた制御ができる。
3)複数のデバイスを同時に試験可能で試験効率が良い。
などになります。ユーザー様のご希望の仕様に合わせてカスタマイズも可能となっております。

②断面研磨サンプル
観察目的に合わせた多種多様な断面サンプルを展示。大型電子部品や機構部品のカット、700mm角にもなる大型サイズの断面研磨も可能。部品構造の観察、設計精度の確認、破損状況観察など、解析用途に合わせた対応が可能。マイクロメーターレベルのクラックや剥離などの不良調査にも有効です。

③新規導入「プラズマFIB-SEM」による観察技術のご紹介
3Dパッケージの故障解析や、広い領域のFIB加工など様々なニーズに対応することが可能です。Xeを用いたプラズマFIBなので、短時間で大面積の加工が可能(設備の展示はございません)。また、FE-SEMを搭載しており、加工しながら断面像を確認することで、微小な不良箇所を見逃しません。

④半導体パッケージ開封
独自の開封技術で、半導体チップを露出させた試料を作製。故障箇所の観察、良品解析におけるワイヤ接合度の評価などの前工程として、非常に重要な技術になります。

【展示会詳細】
●開催日時:
2018年5月23日(水)~24日(木)10:00~18:00、25日(金)10:00~17:00
●会場:パシフィコ横浜・展示ホール
●弊社ブース:小間番号27
※ご来場に際しましては、下記の展示会公式サイトをご確認ください。
▶人とくるまのテクノロジー展公式サイト

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