クオルテック

受託分析、故障解析、信頼性評価から研究開発まで
トータルクオリティソリューションの「クオルテック」


クオルテック > 事例紹介

事例紹介

事例紹介

  • 固体電解質に適した交流インピーダンス測定治具 2015/11/14研究開発 固体電解質に適した交流インピーダンス測定治具 固体電解質の交流インピーダンス測定に最高周波数100MHzおよび最高測定温度300℃を満たす測定システムを開発しました。 詳細はこちら
  • ウィスカ&マイグレーション検査/プリント基板の品質評価 2015/07/06分析・故障解析 ウィスカ&マイグレーション検査/プリント基板の品質評価 手間のかかる検査業務はクオルテックにお任せ下さい。御社の開発期間短縮に貢献します。 詳細はこちら
  • 高電圧マイグレーション試験 ~1000V印加の絶縁耐圧確認~ 2015/05/12信頼性試験 高電圧マイグレーション試験 ~1000V印加の絶縁耐圧確認~ 従来のマイグレーション試験では評価できない高電圧化に対応可能な試験です。 詳細はこちら
  • フーリエ変換-赤外分光法(FT-IR)による有機物分析 2015/05/01分析・故障解析 フーリエ変換-赤外分光法(FT-IR)による有機物分析 製品に付着した異物の分析、樹脂やコーティング成分の比較に効果的な分析手法です。 詳細はこちら
  • パワーサイクル試験 2015/04/30信頼性試験 パワーサイクル試験 パワーサイクル試験とは、パワー半導体およびモジュールの信頼性を、短時間で効率的に評価する試験。1200Aまでの大電流、ジャンクション温度の正確な測定、多種多様な... 詳細はこちら
  • パワーサイクル試験:空冷システム 2015/04/09信頼性試験 パワーサイクル試験:空冷システム 発熱と冷却を繰り返すことで、IGBT等パワー半導体に熱ストレスを与える試験です。 詳細はこちら
  • 塵埃試験(浮遊式) 2015/04/09信頼性試験 塵埃試験(浮遊式) 使用環境に合わせて耐塵埃性を評価する試験です。 詳細はこちら
  • CP加工(イオンミリング)による超精密試料を、お手頃価格でご提供。 2015/03/20断面研磨 CP加工(イオンミリング)による超精密試料を、お手頃価格でご提供。 CP加工(イオンミリング)により、高倍率SEM観察などのための微細かつ高精度な断面試料を作製します。 詳細はこちら
  • 振動試験(複合タイプ) 2015/03/16信頼性試験 振動試験(複合タイプ) 使用環境における振動、温度及び湿度に供試品が耐えられるかを確認します。 詳細はこちら
  • 接合強度試験:高温 2014/11/18信頼性試験 接合強度試験:高温 強度試験機とミニホットプレートを組み合わせることで、高温域でのはんだ接合強度を測定します。 詳細はこちら
  • 新しい半導体開封技術(Agワイヤ・パワーデバイス) 2014/11/11分析・故障解析 新しい半導体開封技術(Agワイヤ・パワーデバイス) 新しい開封技術として、Agワイヤ・パワーデバイスへの対応を進めています。 詳細はこちら
  • 半導体パッケージ開封技術(Cuワイヤ・Auワイヤ) 2014/10/11分析・故障解析 半導体パッケージ開封技術(Cuワイヤ・Auワイヤ) CuワイヤやAuワイヤの半導体パッケージの開封を行っています。パッケージ樹脂を溶解し、IC内部の観察を可能にする開封試料を作製します。 詳細はこちら
  • プリント基板の各種評価 2014/10/09信頼性試験 プリント基板の各種評価 各種電子機器に使用されるプリント基板(硬質基板・FPC)の品質確認/検証を行います。数十年以上に渡って培った技術と経験を駆使して、信頼度の高い評価を行います。 詳細はこちら
  • EBSD(電子線後方散乱回折法)を利用した結晶解析 2014/10/09分析・故障解析 EBSD(電子線後方散乱回折法)を利用した結晶解析 EBSD分析では、電子顕微鏡と組み合わせ、試料極表面の結晶方位・粒径・粒界・歪み分布などに関する情報を取得することが出来ます。 詳細はこちら
  • ボンディング性評価のためのシリコンエッチング技術 2014/10/02分析・故障解析 ボンディング性評価のためのシリコンエッチング技術 シリコンエッチング技術で、金属間化合物の生成状態がより明確に観察可能となります。 詳細はこちら

PAGETOP



本社・分析センター 大阪府堺市堺区三宝町
4丁231-1
TEL:072-226-7175
FAX:072-226-7176
レーザ加工・表面処理実験室 大阪府堺市堺区三宝町
4丁230番地
TEL:072-226-7175
FAX:072-226-7176
研磨センター 大阪府堺市堺区三宝町
4丁231番地
TEL:072-282-6646
FAX:072-282-6648
PC試験装置開発室 大阪府堺市堺区鉄砲町
32-1
TEL:072-275-7711
FAX:072-275-7500
信頼性試験センター 大阪府堺市西区築港新町
3丁27-6
TEL:072-245-1668
FAX:072-339-4208
東京営業所/東京テクニカルラボ 東京都大田区大森南
3丁目12-1
TEL:03-6423-2031
FAX:03-6423-2032