事例紹介
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2018/10/12信頼性試験
TDDB（酸化膜破壊）試験
半導体の寿命や信頼性維持の重要な要因である酸化膜破壊について、電圧加速による寿命試験を行っています。
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2018/10/09分析・故障解析
非破壊解析技術 C-SAM（2D〜3D）
超音波顕微鏡では、2次元像（C-Scan）が標準的であるが、より視覚的・立体的に状態を捉えるために3次元化を目指しています。
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2018/10/05分析・故障解析
解析技術：静電気破壊 〜SiC-MOSFET/ロックイン発熱解析/プラズマFIBの活用〜
近年SiCやGaNといった次世代パワー半導体の開発・実用化が進み、故障解析技術に対する要求が高まっています。今回はSiC-MOSFETを例として、IEC6100...
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2018/10/04分析・故障解析
プラズマFIB-SEMの加工 〜分析性能と実例〜
従来のGaタイプのFIBと比べて大電流値での加工が可能になったため、数十μmの通常加工はもちろん500μmの大面積加工が可能です。
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2018/07/30再現実験
X線リフローシミュレーター
本装置は、リフロー中のICパッケージや各種部品の溶融はんだの動きをリアルタイムに観測することができます。
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2018/07/24分析・故障解析
非破壊解析技術 3D-CSAM
超音波顕微鏡の3D機能および周波数分解機能を使い、非破壊による故障解析の精度を向上しました。
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2018/07/23分析・故障解析
故障解析事例（アバランシェ破壊の再現実験）
アバランシェ破壊の試験条件を構築し、再現実験を行いました。
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2018/07/23分析・故障解析
故障解析事例（静電気破壊の再現実験）
電子部品の故障解析には、効率的かつ論理的な再現実験を通じて因果関係を確かめる事が重要です。今回はIEC61000-4-2に倣い、人体からの放電を模擬したESD破...
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2018/07/20信頼性試験
車載部品の信頼性試験
クオルテックでは、新しい検査設備の導入、オリジナル試験機の開発を行い、さまざまな車載部品の信頼性評価サービスを提供しております。
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2018/07/17信頼性試験
電源回路 正サージ試験（ロードダンプ試験）
オルタネータがバッテリを充電している状態で、負荷が急変した際に発生する正サージへの耐性を評価します。
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2018/07/12信頼性試験
電源回路 負サージ試験（フィールドディケイ試験）
モータやオルタネータなどの界磁巻線（フィールドコイル）や誘導系負荷に蓄積されたエネルギーが、回路遮断時や破損時に放出する負サージへの耐性を評価します。
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2018/03/19信頼性試験
試験のプロが考えたカスタムメイドパワーサイクル試験機・K-factor専用測定器
年間200件以上の受託試験を通じて培った実績とノウハウを搭載。ハイパワーIGBT 高電流、SiC、GaNに対応。車載用デバイスの評価に最適です。
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2018/03/15信頼性試験
電子部品の急速温度サイクル試験
新しく冷熱衝撃装置を導入しました。急速な温度の変化または温度の変化の繰り返しが電子部品や機器に与える影響を確認します。
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2018/02/16信頼性試験
複合振動試験機(IMV社製A30)を導入しました
振動試験機を合計4台所有しているので、スピーディーな対応が可能です。
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2017/11/02分析・故障解析
XPS・AES複合機
SEM/EDS分析では難しかった試料最表面数ナノメートルの厚み領域における元素分析・化学状態分析が可能となります。
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